透射電鏡與掃描電鏡的區(qū)別
來源/作者:普拉特澤-生物醫(yī)學(xué)整體課題外包平臺(tái)
在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)等前沿領(lǐng)域中,電子顯微鏡無疑是一種不可或缺的科研工具。其中,透射電鏡(TEM)和掃描電鏡(SEM)作為兩種常見的電子顯微鏡技術(shù),在成像原理、結(jié)構(gòu)、功能以及對(duì)樣品的要求等方面都存在顯著的差異。 組織染色檢測(cè)平臺(tái)為廣大科研實(shí)驗(yàn)人員提供透射電鏡外包實(shí)驗(yàn)服務(wù)普拉特澤生物帶大家詳細(xì)闡述這兩種技術(shù)的主要區(qū)別。
一、結(jié)構(gòu)組成的差異
透射電鏡主要由電子槍、電磁透鏡、樣品室、成像系統(tǒng)和記錄系統(tǒng)等組成。電子槍產(chǎn)生電子束,電磁透鏡將電子束聚焦并照射到樣品上,電子穿過樣品后被透鏡成像,最終在熒光屏上形成放大的樣品圖像。
透射電鏡
掃描電鏡的結(jié)構(gòu)則包括電子槍、電磁透鏡、掃描線圈、探測(cè)器和顯示系統(tǒng)等。電子槍產(chǎn)生電子束,電磁透鏡將電子束聚焦成納米尺度,掃描線圈控制電子束在樣品表面掃描,探測(cè)器收集樣品發(fā)出的信號(hào)并轉(zhuǎn)換成圖像,最終通過顯示系統(tǒng)展示給用戶。
sem掃描電子顯微鏡
二、功能應(yīng)用的差異
透射電鏡不僅可以觀察樣品的內(nèi)部形貌,還可以分析樣品的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷、化學(xué)組成和價(jià)態(tài)等。這使得透射電鏡在納米材料、礦物巖石、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。例如,在納米材料領(lǐng)域,透射電鏡可以分析納米顆粒的尺寸、形貌和結(jié)構(gòu);在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,透射電鏡可以分析生物大分子的形態(tài)和結(jié)構(gòu)。
掃描電鏡則主要用于觀察樣品表面的微觀形貌,并可以獲得化學(xué)組成的信息。它在材料表征、失效分析、半導(dǎo)體器件檢測(cè)等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。例如,在材料表征領(lǐng)域,掃描電鏡可以分析材料的斷口形貌、晶粒大小、析出相分布等;在半導(dǎo)體器件檢測(cè)領(lǐng)域,掃描電鏡可以檢測(cè)集成電路的缺陷和表面形貌。
sem掃描電鏡圖片分析實(shí)例
投射電鏡
三、樣品制備的差異
透射電鏡對(duì)樣品的厚度有嚴(yán)格要求,一般需要小于100納米。制備透射樣品需要經(jīng)過切片、研磨、減薄等復(fù)雜的過程,通常采用機(jī)械減薄、化學(xué)減薄或者離子減薄的方法。樣品的減薄質(zhì)量直接影響到成像的質(zhì)量。此
外,還需要精確定位觀察區(qū)域,這對(duì)透射電鏡樣品制備提出了更高的要求。
掃描電鏡對(duì)樣品的制備要求相對(duì)簡(jiǎn)單。樣品表面需要導(dǎo)電,非導(dǎo)電樣品需要噴涂導(dǎo)電涂層。對(duì)于體積較大的樣品,可以直接置于樣品臺(tái)觀察。但是對(duì)于特定剖面的觀察,需要經(jīng)過切割、磨拋和化學(xué)腐蝕等處理。
總結(jié)來說,透射電鏡和掃描電鏡在成像原理、結(jié)構(gòu)、功能和對(duì)樣品的要求等方面都存在顯著的差異??蒲腥藛T應(yīng)根據(jù)具體的研究需求選擇合適的電子顯微鏡技術(shù)。那關(guān)于透射電鏡與掃描電鏡的區(qū)別我們就介紹到這里啦,還有關(guān)于透射電鏡更多問題咨詢的歡迎留言哦,技術(shù)小姐姐會(huì)第一時(shí)間給到最專業(yè)的回復(fù)噠!還有需要透射電鏡代做服務(wù)請(qǐng)認(rèn)準(zhǔn)咱們普拉特澤哦!